CM10系(xi)列涂(tu)層測(ce)厚(hou)儀(yi)是(shi)一種便攜(xie)式的測(ce)量(liang)儀(yi)器，它設(she)計用于(yu)無損(sun)傷地(di)進(jin)行涂(tu)、鍍層厚(hou)度(du)測(ce)量(liang)。既可以用于(yu)實驗(yan)，也可以用于(yu)工程(cheng)現場(chang)。

本儀器符合以下標準：

GB/T 4956─2003 磁性基體(ti)上非磁性覆蓋層(ceng) 覆蓋層(ceng)厚度測量 磁性法(fa)

GB/T 4957─2003 非(fei)磁(ci)性(xing)基體金屬上(shang)非(fei)導電覆蓋(gai)層(ceng) 覆蓋(gai)層(ceng)厚度測量(liang) 渦流法

JB/T 8393─1996 磁性和渦流式(shi)覆(fu)層厚度測(ce)量儀

JJG 818─2005 磁性、電(dian)渦流(liu)式(shi)覆層厚度(du)測量儀

● 儀器特(te)點

      ◆   CM10F和(he)CM10FH采用磁(ci)(ci)性測(ce)量方法，可測(ce)量磁(ci)(ci)性金(jin)屬基體上非磁(ci)(ci)性覆蓋(gai)層的厚度。

      ◆   CM10N采(cai)用渦(wo)流測量(liang)方(fang)法(fa)，可測量(liang)非磁性金屬基體(ti)上非導電(dian)覆蓋層的厚度。

      ◆   CM10FN既可(ke)采(cai)用(yong)(yong)磁性測(ce)量方法，又(you)可(ke)采(cai)用(yong)(yong)渦流測(ce)量方法。

     ; ◆    CM10為可更(geng)換探(tan)頭(tou)類(lei)型，可配備3種不同型號的探(tan)頭(tou)。

      ◆    CM10F測量(liang)最大(da)(da)厚度(du)(du)到(dao)3mm，CM10FH測量(liang)最大(da)(da)厚度(du)(du)到(dao)10mm，CM10N測量(liang)最大(da)(da)厚度(du)(du)到(dao)2mm，CM10FN測量(liang)最大(da)(da)厚度(du)(du)到(dao)1.5mm。

      ◆   CM10系列(lie)涂層測厚儀具有(you)高、低兩種分(fen)辨力(li)顯(xian)示。

      ◆    設有五(wu)個統(tong)計(ji)量(liang)：測量(liang)次數（N）、最大(da)值（MAX）、最小值（MIN）、平均值（MEAN）和標準偏差（STD.DEV）。

      ◆    可采(cai)用零點校(xiao)準(zhun)(zhun)(zhun)、一點校(xiao)準(zhun)(zhun)(zhun)和兩點校(xiao)準(zhun)(zhun)(zhun)三種方法對儀器進行(xing)校(xiao)準(zhun)(zhun)(zhun)。

      ◆   具(ju)有(you)電(dian)源欠壓指示(shi)功能。

      ◆   操作過(guo)程有蜂鳴(ming)聲(sheng)提(ti)示。